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產品型號:BX-Y1227
更新時間:2024-05-15
廠商性質:生產廠家
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產品用途:全自動四探針電阻測量測試儀
晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量;選擇性發射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結擴散片;新型電極設計,如電鍍銅電阻測量等;半導體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
儀器特點:全自動四探針電阻測量測試儀
四點探針法,全自動化運行測量系統,PC軟件采集和數據處理;參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻;可設定探針壓力值、測試點數、多種測量模式選擇;真空環境,可顯示:方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數值圖、溫濕度值、提供標準校準電阻件.報表輸出數據統計分析.
技術參數:
規格型號 | BX-Y1227 |
1.電阻 | 10^-5~2×10^5Ω |
2.方塊電阻 | 10^-5~2×10^5Ω/□ |
3.電阻率 | 10^-6~2×10^6Ω-cm |
4.測試電流 | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA |
5.電流精度 | ±0.1% |
6.電阻精度 | ≤0.3% |
7.PC軟件操作 | PC軟件界面:電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、2D、3D圖譜、壓力、報表生成等 |
8.壓力范圍: | 探針壓力可調范圍:軟件控制,100-500g可調 |
9.探針 | 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;機械游移率:≤0.3% 圓頭銅鍍金材質,探針間距1mm;2mm;3mm選配,其他規格可定制 |
10.可測晶片尺寸選購 | 晶圓尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm); 方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的自動測試 |
12.重復性 | 測量重復性:重復性≤3% |
13.防護功能 | 具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報 |
14.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<100W |
15.選購項目 | 電腦和打印機 |